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KEM京都電子熱盤式熱物理性能分析儀的工作原理是什么
更新時間:2025-09-23
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KEM京都電子的熱盤式熱物理性能分析儀,其核心技術(shù)原理是 瞬態(tài)平面熱源法,也常被稱為“熱盤法"。這種方法能快速、精確地同時測量材料的導(dǎo)熱系數(shù)、熱擴散率,并計算出比熱容。
探頭的雙重角色
儀器的核心是一個特殊的探頭,它通常由導(dǎo)電金屬(如鎳)蝕刻成雙螺旋結(jié)構(gòu),并封裝在絕緣薄膜中。這個探頭扮演著雙重角色:它既是一個加熱器,通過施加一個精確控制的恒定電流來對樣品進行加熱;同時,由于金屬的電阻會隨溫度變化,它又是一個高精度的溫度傳感器,用于監(jiān)測自身溫度隨時間的變化。
瞬態(tài)加熱與數(shù)據(jù)采集
測量開始時,儀器會向探頭施加一個短時間的恒定加熱功率。在加熱過程中,探頭產(chǎn)生的熱量會同時向探頭兩側(cè)的樣品中擴散。與此同時,儀器以高的頻率實時監(jiān)測并記錄探頭的電阻變化,由于電阻與溫度存在確定的對應(yīng)關(guān)系,從而可以得到一條精密的溫升-時間曲線。
數(shù)據(jù)分析與參數(shù)計算
得到溫升曲線后,核心的物理模型就開始發(fā)揮作用了。該方法基于非穩(wěn)態(tài)熱傳導(dǎo)理論,通過分析實驗測得的溫升曲線與理想數(shù)學(xué)模型進行擬合。
這種工作原理賦予了KEM熱盤式分析儀一系列突出優(yōu)點:
絕對法測量:基于嚴(yán)格的理論模型,直接測量物理量的變化,結(jié)果具有良好的重復(fù)性(導(dǎo)熱系數(shù)重復(fù)性可達2%以內(nèi)),且通常無需校準(zhǔn)。
應(yīng)用廣泛:通過選用不同形狀和尺寸的探頭,可以測量各向同性材料、各向異性材料、固體、粉末、凝膠、液體等多種形態(tài)和性質(zhì)的材料。
同時測量多參數(shù):一次實驗即可同時獲得導(dǎo)熱系數(shù)、熱擴散率和體積比熱容三個關(guān)鍵熱物性參數(shù)。
以KEM的TPS 2500 S和TPS 1500為例,它們符合國際標(biāo)準(zhǔn)(如ISO 22007-2),測量范圍寬,能夠覆蓋從絕熱材料到金屬等多種材料。
其主要應(yīng)用領(lǐng)域包括:
新材料研發(fā):如開發(fā)高性能的隔熱材料、導(dǎo)熱界面材料等。
產(chǎn)品質(zhì)量控制:在化工、建材、航空航天等領(lǐng)域,對原材料和成品的導(dǎo)熱性能進行批次檢驗。
學(xué)術(shù)研究:在物理、化學(xué)、材料科學(xué)等領(lǐng)域進行基礎(chǔ)研究。
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