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METTLER TOLEDO/梅特勒分析天平:精準稱重的科學與藝術
更新時間:2025-12-01
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從微克到克,每一毫克的精確測量背后,都是科技與工藝的結合。
在科學研究和工業(yè)生產的精密世界中,精確稱量是實驗成功和質量控制的基石。梅特勒-托利多作為實驗室稱重技術的,其分析天平產品融合了精密機械工程、傳感器技術和智能數字功能,成為眾多實驗室的精密儀器。
分析天平是一種高精度測量儀器,專門用來精確測定小量樣品的質量。它廣泛應用于科學研究、分析化學以及品質控制等領域,特別是在重量細微變化可能產生重大影響的情況下。
梅特勒-托利多的分析天平具有22至520克的量程,以及0.001至1毫克的讀值精度,非常適合用于密度測定、樣品準備、差示稱重、配方設計及移液管校正等精密應用。
現(xiàn)代分析天平不僅提供基本稱重功能,還配備各種智能特性,如內部測試和調整、直觀的觸控屏幕操作、質量保證和電動門等,顯著提升了用戶體驗和數據可靠性。
梅特勒-托利多分析天平的稱重原理基于電磁力補償技術。當天平外殼內的稱重傳感器檢測到放置在秤盤上的物體時,會產生一個精確的抵消電磁力。
分析天平將這種補償電磁力的大小解釋為物體的重量,最終結果以適當的單位(克、毫克、微克等)顯示在天平終端上。
對于分析實驗室天平(可讀性為0.1毫克或更?。?,其秤盤通常放置在特制的防風罩內,這種設計能保護樣品和容器免受氣流等外部環(huán)境因素的影響,從而提高整體稱重性能。
在精密稱重中,結果的準確性至關重要,這種保護措施顯得尤為重要。
梅特勒-托利多提供了多種分析天平系列,每個系列針對不同的應用需求和用戶偏好而設計。
XSE分析天平通過直觀操作實現(xiàn)可靠稱量,提供的稱量性能和質量保證以及優(yōu)化的人體工程學設計。
該系列產品配備了創(chuàng)新的狀態(tài)指示燈,可以免除用戶在稱量方面的擔憂。清晰可見的綠燈讓用戶知道何時開啟安全,所有的測試都始終保持完整,天平水平且功能正常。
XSE天平配備各種附件和多個連接選項,適用于不同的稱量應用。其獨特的網格秤盤和易巧稱量組件設計,使清潔工作變得更加簡便。
MS-TS分析天平量程為120g至320g,可讀性為0.1mg,可提供快速、精確與可靠的結果。
這一系列產品以便于清潔著稱,配備一個大觸摸屏,可使用戶更加舒適地執(zhí)行日常稱量工作。同時,它能輕松地將結果傳輸到任何需要的地方。
ME104分析天平具有0.1 mg的可讀性和120g的大稱量值。它采用人體工程學設計,讓日常常規(guī)稱量輕松高效。
這些堅固的通用型天平不僅在日常任務中支持直觀操作,并快速獲得結果,而且易于清潔,配有前置水平調節(jié)腳,僅需按動一鍵就可以進行內部校準。
以下是梅特勒-托利多幾款代表性分析天平的技術參數比較:
| 產品型號 | 大稱量值 | 可讀性 | 重復性 | 穩(wěn)定時間 |
|---|---|---|---|---|
| XSE205DU | 81.0 g / 220.0 g | 0.01 mg / 0.1 mg | 0.01 mg | 信息缺失 |
| XSE104 | 120.0 g | 0.1 mg | 0.04 mg | 信息缺失 |
| MS-TS | 120g至320g | 0.1 mg | 信息缺失 | 信息缺失 |
| ME104 | 120 g | 0.1 mg | 0.1 mg | 2s |
正確使用分析天平是獲得可靠結果的前提,以下是使用梅特勒-托利多分析天平的標準步驟和佳實踐:
稱重前,首先檢查天平是否水平。如果標準操作程序有此要求,可能需要進行天平調整。
選擇合適的環(huán)境至關重要,分析天平是高度敏感的儀器,需要在人流量少的專用區(qū)域放置一個堅固的石臺,并確保環(huán)境無振動、遠離窗戶和陽光直射、遠離氣流和空調以及電磁干擾。
將天平連接至電源后,打開天平并讓其適應室內溫度至少2小時后再使用。
開始稱重程序時,首先按下歸零按鈕,這為用戶提供一個零點作為稱重過程的起點。
打開防風罩門,將目標容器(有時稱為皮重容器)放在秤盤上,必要時記得戴上手套或使用鑷子。
關閉防風罩門并等待容器的重量值穩(wěn)定,皮重容器的重量現(xiàn)在顯示在顯示器上。
按下去皮按鈕,天平記錄皮重容器的重量,顯示器將再次顯示零。
開始添加樣品,直到達到所需的目標重量。關閉防風罩門,一旦天平穩(wěn)定,它將發(fā)布重量結果。
在進行測量之前,必須對天平進行校準。校準天平包括將其測量結果與已知標準或參考砝碼進行比較。
這有助于識別和糾正天平讀數中的任何誤差,從而確保結果準確可靠。這可以由校準技術人員使用專門的校準砝碼來完成。
清潔分析天平對于使用者安全和避免影響結果準確性的交叉污染非常重要。此外,妥善維護分析天平將延長其使用壽命。
分析天平的秤盤、滴水盤、外殼和終端可以用紙巾清潔。分析天平可以使用市售的溫和清潔劑和清潔劑(例如70%乙醇或異丙醇)進行清潔。但不得使用丙酮清潔分析天平,因為它與塑料手柄、黏合部件和終端不相容。
如果標準操作程序中未指定,建議根據使用情況至少每周或每月清潔一次分析天平。在許多實驗室中,建議每天檢查分析天平。如果稱量有毒樣品,則每次稱量后應立即清潔分析天平。
梅特勒-托利多的所有分析天平型號都具有易于清潔的功能。MS分析天平通過QuickLock無需使用任何工具即可從分析天平外殼上完整、輕松地拆卸和組裝防風罩。
在XPR分析天平上,易於拆卸的元件(例如滴水盤和所有防風罩部件)簡化了清潔工作,無需任何工具。
梅特勒-托利多分析天平提供多種數據管理解決方案,以滿足不同實驗室的需求:
可以從分析天平手動傳輸稱重結果到實驗室日志和其他工具進行計算或進一步使用。
通過使用打印機和其他配件(如條形碼讀取器)可以增強手動方法。
梅特勒-托利多分析天平可以通過USB和以太網等各種接口輕松連接到PC或其他分析儀器,以進行數字化數據采集和存儲。
對于分析天平,它們可以將結果直接導入個人電腦,并可通過滴入光標和兼容LabX™數據管理軟件實現(xiàn)優(yōu)化和數字化的工作流程。
LabX具有集中的儀器和任務控制、用戶指導和結果安全存儲功能,可提高效率、提供可追溯性并有助于滿足監(jiān)管要求。
分析天平通常簡稱為"實驗室天平",可以分析各種樣本。需要使用電子分析天平的客戶特定應用包括:
樣品/標準品制備 - 在分析測試前準備樣品和標準物質
配方 - 精確配制各種化學制劑和藥品
差示稱重 - 測量樣品在不同條件下的重量變化
密度測定 - 通過測量固體和液體的密度來鑒定物質
移液器常規(guī)測試 - 校準和驗證移液器的準確性
元素分析 - 在化學分析中精確稱量樣品
分析天平用于各行業(yè)的普通實驗室、研發(fā)和品質控制實驗室,例如制藥和生物技術、化學品、食品、學術界、金屬和塑料等。
選擇合適的分析天平非常重要。準確稱重不僅僅取決于天平顯示器上的數字。
只有了解您的制程風險、公差、所需品質和相關法規(guī),才能選擇為您提供必要精度等級的天平。天平的性能必須滿足您的內部精度要求以及任何外部法規(guī)。
您的分析天平必須適合其預期目的;否則,所有稱重結果以及使用這些稱重結果的任何后續(xù)處理將被視為無效。
梅特勒-托利多的免費GWP®推薦服務旨在幫助用戶選擇適合特定制程和精度要求的儀器。它考慮以下關鍵因素:
大重量:稱重的大負載(包括去皮容器)
最小凈重:稱重的最小負載(不包括去皮容器)
稱量誤差:可接受的稱量誤差,以±百分比表示
安全系數:此系數應用于天平最小重量,以補償外部影響,例如振動、氣流、不同的操作員等。
分析天平技術持續(xù)演進,梅特勒-托利多始終走在創(chuàng)新前沿。未來的發(fā)展趨勢主要集中在以下幾個方向:
現(xiàn)代分析天平越來越注重智能化功能,例如梅特勒-托利多的XPR分析天平具有StaticDetect™功能,可自動評估由于樣品和容器上的靜電荷而導致的稱重誤差,并在誤差超出預定義限值時發(fā)出警告。
XPR分析天平還可以輕松升級以實現(xiàn)自動粉末和液體分配,大大提高了實驗室的工作效率。
隨著制藥和生物技術行業(yè)對數據完整性要求的提高,現(xiàn)代分析天平提供了更強大的數據管理功能。
LabX™實驗室軟件提供的數據管理和結果分析功能,是集中管理數據、任務、儀器和用戶的強大解決方案。
LabX還有助于符合美國聯(lián)邦法規(guī)第21卷第11部分和ALCOA+數據完整性要求。
新一代分析天平更加注重用戶體驗,例如XSE分析天平配備狀態(tài)指示燈在內的新型彩色顯示屏,具有警告功能,使操作更加直觀便捷。
MS-TS分析天平則配備大觸摸屏,可使用戶更加舒適地執(zhí)行日常稱量工作。
從大學實驗室的基礎研究到制藥企業(yè)的質量控制,從食品安全檢測到材料科學創(chuàng)新,梅特勒-托利多分析天平始終是科學界和工業(yè)界值得信賴的精密稱重伙伴。
正如一位長期用戶所說:"在精密稱重的世界里,梅特勒-托利多不僅是工具,更是一位無聲的研究伙伴,它用精準的數據支撐著每一次科學的飛躍。"
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